
|

|

|

|

|

|
Peak 2054-100 EMI, Микроскоп ув. 100х с подсветкой, конгруэнтное изображение , шкала (1.2/0.01мм), д.1.45мм, фокус, стекло, футляр
Измерительный микроскоп с подсветкой, конгруэнтное изображение , шкала (1.2/0.01мм), ув. 100х, д.1.45мм, фокус, стекло, футляр
|
|

|

|

|

|
|

|

|

|

|

|

|

|
RL-6, 6x Crack magnifier Лупа для измерений трещин, шкала из стали, ув 6x, д. 30мм, шкала (20/0.1мм), фокус, футляр
RL-6, ув 6x, д. 30мм, шкала (20/0.1мм), фокус, Crack magnifier Лупа для измерений трещин, шкала из стали, футляр
|
|

|

|

|

|
|

|

|

|

|

|

|

|
Peak 2054-40 CIL, Микроскоп ув. 40х с коаксиальной подсветкой, шкала (3/0.05мм), ув. 40х, д.3,6мм, фокус, стекло, футляр
Измерительный микроскоп с коаксиальной подсветкой, шкала (3/0.05мм), ув. 40х, д.3,6мм, фокус, стекло, футляр
|
|

|

|

|

|
|