Измеретели глубины, микроскопы Cellcheck, Германия:: Stoklan

О компании | Новости | Поставщики | Контакты | СПЕЦИАЛЬНОЕ ПРЕДЛОЖЕНИЕ !

	Измеретели глубины, микроскопы Cellcheck, Германия

Вернуться в категорию

Наименование		Цифровой микрсокоп для измерения глубины отверстий Cellcheck CIL-ZX-USB
Цена, евро		8380.00
Краткое описание		Цифровой микрсокоп для измерения глубины отверстий Cellcheck CIL-ZX-USB
Полное описание		Cellcheck CIL-ZX-USB: Идеальный помощник для измерения глубины. Области применения: В электронной промышленности: измерение диаметров отверстий, ширины линий, расстояний. Качество стенок сверленых отверстий, эксцентриситет отверстий и паяные контакты. Полиграфическая промышленность: офсетные печатные платы, печати различного вида, резиновые печатные валки, контроль шаблонов трафаретной печати, голограммы. Деревообработка и полимерная промышленность: Качество фанеры или ламинированные поверхности. Металлообрабатывающая промышленность: валики, небольшие сверла и неперетачиваемые пластины. Стекло: контроль печати на стеклах в автомобильной промышленности. Это только некоторые области применения. Для бесконтактного определения глубины отверстия цифровые измерительные часы измеряют расстояние между двумя плоскостями резкости. Чтобы глубина резкости, как возможный источник ошибок, была мала, измерение осуществляется с наибольшим увеличением в отношении к желаемому полю зрения. Поэтому в комплект поставки измерительной системы входят все имеющиеся объективы (с кратностью увеличения от 2- до 30х). Почти беззазорный привод обеспечивает точное фокусирование плоскостей резкости. Важно для оптимального результата измерений: Верхнюю и нижнюю плоскость резкости всегда следует фокусировать с одной и той же стороны. Только так можно гарантировать отсутствие неточностей в измерении даже при малом мертвом ходе. Здесь большое значение имеет коаксиальное освещение непосредственно через объектив. Только благодаря такой схеме освещения можно точно распознать плоскости резкости. Штатив MST обеспечивает устойчивость при измерении глубины. Дополнительное перемещение по оси Х на 5 миллиметров позволяет при больших увеличениях совершать сдвиг между уровнями фокуса, если их невозможно захватить в поле зрения.

	Доставка

По вопросам заказа материалов и доставки обращайтесь по телефонам:

+7 (495) 517-24-08

+7 (495) 229-22-26

+7 (495) 790-52-93

Факс: +7 (495) 229-22-26

Доставка осуществляется по Москве на следующий день после обращения.

Также можно отправить заявку на электронную почту: sales@stoklan.ru info@stoklan.ru

Peak 2054-100 EMI, Микроскоп ув. 100х с подсветкой, конгруэнтное изображение , шкала (1.2/0.01мм), д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Измерительный микроскоп с подсветкой, конгруэнтное изображение , шкала (1.2/0.01мм), ув. 100х, д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Полное описание

Peak 2054-100 CIL, Микроскоп ув. 100х с коаксиальной подсветкой, шкала (1.2/0.01мм), д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Измерительный микроскоп с коаксиальной подсветкой, шкала (1.2/0.01мм), ув. 100х, д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Полное описание

Peak 2054-100 LED, Микроскоп ув. 100х с подсветкой LED, шкала (1.2/0.01мм), д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Измерительный микроскоп с подсветкой LED, шкала (1.2/0.01мм), ув. 100х, д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Полное описание